Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer Academic Publishers.
Cóipeáladh chuig an ngearrthaisce go rathúil é
Níorbh fhéidir cóipeáil chuig an ngearrthaisce
Lua i Stíl Chicago (17ú heag.)
Nicolici, Nicola, agus Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 2003.
Cóipeáladh chuig an ngearrthaisce go rathúil é
Níorbh fhéidir cóipeáil chuig an ngearrthaisce
Lua MLA (9ú heag.)
Nicolici, Nicola, agus Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2003.
Cóipeáladh chuig an ngearrthaisce go rathúil é
Níorbh fhéidir cóipeáil chuig an ngearrthaisce
Rabhadh: Seans nach mbeach na luanna seo go hiomlán cruinn i ngach uile chás.