Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)
Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer Academic Publishers.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)
Nicolici, Nicola, και Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 2003.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)
Nicolici, Nicola, και Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2003.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.