Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer Academic Publishers.
Успішно скопійовано в буфер обміну
Не вдалося скопіювати в буфер обміну
Чикаго стиль цитування (17-те видання)
Nicolici, Nicola, та Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 2003.
Успішно скопійовано в буфер обміну
Не вдалося скопіювати в буфер обміну
Стиль цитування MLA (9-ме видання)
Nicolici, Nicola, та Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2003.
Успішно скопійовано в буфер обміну
Не вдалося скопіювати в буфер обміну
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.