APA-referens (7:e uppl.)
Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer Academic Publishers.
Chicago-referens (17:e uppl.)
Nicolici, Nicola, och Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 2003.
MLA-referens (9:e uppl.)
Nicolici, Nicola, och Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2003.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.