Citações do registro

Citação APA (7ª ed.)

Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer Academic Publishers.

Citação do estilo Chicago (17ª ed.)

Nicolici, Nicola, e Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 2003.

Citação MLA (9ª ed.)

Nicolici, Nicola, e Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2003.

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