VLSI test principles and architectures design for testability /
Saved in:
Andre forfattere: | Wang, Laung-Terng, Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D., Wen, Xiaoqing |
---|---|
Format: | Electronisk eBog |
Sprog: | engelsk |
Udgivet: |
Amsterdam ; Boston :
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers,
c2006.
|
Serier: | Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
|
Fag: | |
Online adgang: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Lignende værker
-
VLSI test principles and architectures design for testability /
Udgivet: (2006) -
Power-constrained testing of VLSI circuits
af: Nicolici, Nicola
Udgivet: (2003) -
Power-constrained testing of VLSI circuits
af: Nicolici, Nicola
Udgivet: (2003) -
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
af: Tsividis, Yannis
Udgivet: (2002) -
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
af: Tsividis, Yannis
Udgivet: (2002)