VLSI test principles and architectures design for testability /
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その他の著者: | Wang, Laung-Terng, Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D., Wen, Xiaoqing |
---|---|
フォーマット: | 電子媒体 eBook |
言語: | 英語 |
出版事項: |
Amsterdam ; Boston :
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers,
c2006.
|
シリーズ: | Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
|
主題: | |
オンライン・アクセス: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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