Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /
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| Autor Corporativo: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Recurso Eletrônico livro eletrônico |
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
[River Edge, NJ] :
World Scientific,
c2002.
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| coleção: | Selected topics in electronics and systems ;
v. 23. |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
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Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /
Publicado em c2002.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Recurso Eletrônico
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