Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: ebrary, Inc
Άλλοι συγγραφείς: Dumin, D. J.
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: [River Edge, NJ] : World Scientific, c2002.
Σειρά:Selected topics in electronics and systems ; v. 23.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Search Result 1

Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /

Έκδοση c2002.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο