Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /
שמור ב:
| מחבר תאגידי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | |
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
[River Edge, NJ] :
World Scientific,
c2002.
|
| סדרה: | Selected topics in electronics and systems ;
v. 23. |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Search Result 1
Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /
יצא לאור c2002.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
אלקטרוני
ספר אלקטרוני