Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
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| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
[River Edge, NJ] :
World Scientific,
c2002.
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| Schriftenreihe: | Selected topics in electronics and systems ;
v. 23. |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
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