Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /
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| Collectivité auteur: | |
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| Format: | Électronique eBook |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
[River Edge, NJ] :
World Scientific,
c2002.
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| Collection: | Selected topics in electronics and systems ;
v. 23. |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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