ebrary, Inc, & Dumin, D. J. (2002). Oxide reliability: A summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability. World Scientific.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Citace podle Chicago (17th ed.)
ebrary, Inc, a D. J. Dumin. Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability. [River Edge, NJ]: World Scientific, 2002.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Citace podle MLA (9th ed.)
ebrary, Inc, a D. J. Dumin. Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability. World Scientific, 2002.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..