ebrary, Inc, & Dumin, D. J. (2002). Oxide reliability: A summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability. World Scientific.
Успешно скопировано в буфер обмена
Ошибка копирования в буфер обмена
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)
ebrary, Inc, и D. J. Dumin. Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability. [River Edge, NJ]: World Scientific, 2002.
Успешно скопировано в буфер обмена
Ошибка копирования в буфер обмена
Цитирование MLA (9-е изд.)
ebrary, Inc, и D. J. Dumin. Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability. World Scientific, 2002.
Успешно скопировано в буфер обмена
Ошибка копирования в буфер обмена
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.