Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

Полное описание

Библиографические подробности

Главный автор:	Voldman, Steven H.
Соавтор:	ebrary, Inc
Формат:	Электронный ресурс eКнига
Язык:	английский
Опубликовано:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Серии:	ESD series
Предметы:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
Online-ссылка:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки:	Добавить метку Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!