Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلف الرئيسي:	Voldman, Steven H.
مؤلف مشترك:	ebrary, Inc
التنسيق:	الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
سلاسل:	ESD series
الموضوعات:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
الوصول للمادة أونلاين:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!