Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

Täydet tiedot

Bibliografiset tiedot

Päätekijä:	Voldman, Steven H.
Yhteisötekijä:	ebrary, Inc
Aineistotyyppi:	Elektroninen E-kirja
Kieli:	englanti
Julkaistu:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Sarja:	ESD series
Aiheet:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
Linkit:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!