Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής

Κύριος συγγραφέας:	Voldman, Steven H.
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή:	ebrary, Inc
Μορφή:	Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:	Αγγλικά
Έκδοση:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Σειρά:	ESD series
Θέματα:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
Διαθέσιμο Online:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!