תמונות העטיפה
QR Code

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits

Show other versions (1)
שמור ב:
מחבר ראשי: Bahukudumbi, Sudarshan
מחבר תאגידי: ebrary, Inc
מחברים אחרים: Chakrabarty, Krishnendu
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Boston : Artech House, 2010.
סדרה:Artech House integrated microsystems series.
נושאים:
Integrated circuits > Testing.
Integrated circuits > Wafer-scale integration.
Semiconductors > Testing.
Electronic books.
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים: Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits

פריטים דומים