توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)
Bahukudumbi, S., & Chakrabarty, K. (2010). Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits. Artech House.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
Bahukudumbi, Sudarshan, و Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Boston: Artech House, 2010.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
Bahukudumbi, Sudarshan, و Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Artech House, 2010.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.