Bahukudumbi, S., & Chakrabarty, K. (2010). Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits. Artech House.
Kopioitu leikepöydälle
Kopiointi leikepöydälle epäonnistui
Chicago-viite (17. p.)
Bahukudumbi, Sudarshan, ja Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Boston: Artech House, 2010.
Kopioitu leikepöydälle
Kopiointi leikepöydälle epäonnistui
MLA-viite (9. p.)
Bahukudumbi, Sudarshan, ja Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Artech House, 2010.
Kopioitu leikepöydälle
Kopiointi leikepöydälle epäonnistui
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.