Bahukudumbi, S., & Chakrabarty, K. (2010). Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits. Artech House.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
Bahukudumbi, Sudarshan, و Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Boston: Artech House, 2010.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
Bahukudumbi, Sudarshan, و Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Artech House, 2010.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.