Bahukudumbi, S., & Chakrabarty, K. (2010). Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits. Artech House.
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शिकागो शैली (17वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र
Bahukudumbi, Sudarshan, और Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Boston: Artech House, 2010.
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एमएलए (9वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र
Bahukudumbi, Sudarshan, और Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Artech House, 2010.
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