Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
-д хадгалсан:
| Үндсэн зохиолч: | |
|---|---|
| Байгууллагын зохиогч: | |
| Бусад зохиолчид: | |
| Формат: | Цахим Цахим ном |
| Хэл сонгох: | англи |
| Хэвлэсэн: |
Boston :
Artech House,
2010.
|
| Цуврал: | Artech House integrated microsystems series.
|
| Нөхцлүүд: | |
| Онлайн хандалт: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Шошгууд: |
Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|