ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Kurumsal yazarlar: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Materyal Türü: Elektronik Konferans Sunumu Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Materials Park, OH : ASM International, c2001.
Konular:
Online Erişim:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Search Result 1