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ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

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में बचाया:
निगमित लेखकों: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
स्वरूप: इलेक्ट्रोनिक सम्मेलन की कार्यवाही ई-पुस्तक
भाषा:अंग्रेज़ी
प्रकाशित: Materials Park, OH : ASM International, c2001.
विषय:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
ऑनलाइन पहुंच:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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वस्तु वर्णन:Sponsored by EDFAS, ISTFA.
भौतिक वर्णन:xix, 485 p. : ill.
ग्रन्थसूची:Includes bibliographical references and index.

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