Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
שמור ב:
מחבר ראשי: | Bahukudumbi, Sudarshan |
---|---|
מחבר תאגידי: | ebrary, Inc |
מחברים אחרים: | Chakrabarty, Krishnendu |
פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
שפה: | אנגלית |
יצא לאור: |
Boston :
Artech House,
2010.
|
סדרה: | Artech House integrated microsystems series.
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
Power-constrained testing of VLSI circuits
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)
VLSI test principles and architectures design for testability /
יצא לאור: (2006)
יצא לאור: (2006)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
מאת: Franca, Jose E.
יצא לאור: (1994)
מאת: Franca, Jose E.
יצא לאור: (1994)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Design for at-speed test, diagnosis, and measurement
יצא לאור: (2000)
יצא לאור: (2000)
VLSI circuits for biomedical applications
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Advanced interconnects for ULSI technology
יצא לאור: (2012)
יצא לאור: (2012)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)
Advanced high speed devices
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Electromigration in ULSI interconnections
מאת: Tan, Cher Ming, 1959-
יצא לאור: (2010)
מאת: Tan, Cher Ming, 1959-
יצא לאור: (2010)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
מאת: Radecka, Katarzyna
יצא לאור: (2003)
מאת: Radecka, Katarzyna
יצא לאור: (2003)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
יצא לאור: (2005)
יצא לאור: (2005)
Linear integrated circuits /
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017)
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017)
Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)
Microelectronic circuit design /
מאת: Jaeger, Richard C.
יצא לאור: (2006)
מאת: Jaeger, Richard C.
יצא לאור: (2006)
An engineer's guide to automated testing of high-speed interfaces
מאת: Moreira, José, 1975-
יצא לאור: (2010)
מאת: Moreira, José, 1975-
יצא לאור: (2010)
Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
מאת: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
יצא לאור: (1999)
מאת: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
יצא לאור: (1999)
Radio frequency integrated circuit design
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)
ESD failure mechanisms and models /
מאת: Voldman, Steven H.
יצא לאור: (2009)
מאת: Voldman, Steven H.
יצא לאור: (2009)
Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)
Radio-frequency integrated-circuit engineering /
מאת: Nguyen, Cam
יצא לאור: (2015)
מאת: Nguyen, Cam
יצא לאור: (2015)
Alternative computer chips post-silicon circuits.
יצא לאור: (2003)
יצא לאור: (2003)
High-speed integrated circuit technology towards 100 GHz logic /
יצא לאור: (2001)
יצא לאור: (2001)
Compound semiconductor integrated circuits
יצא לאור: (2003)
יצא לאור: (2003)
Digital integrated circuits : analysis and design /
מאת: Ayers, John E.
יצא לאור: (2010)
מאת: Ayers, John E.
יצא לאור: (2010)
CMOS biomicrosystems where electronics meets biology /
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Diode lasers and photonic integrated circuits
מאת: Coldren, L. A. (Larry A.)
יצא לאור: (2012)
מאת: Coldren, L. A. (Larry A.)
יצא לאור: (2012)
Understanding fabless IC technology
מאת: Hurtarte, Jeorge S.
יצא לאור: (2007)
מאת: Hurtarte, Jeorge S.
יצא לאור: (2007)
Analog circuits
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
CMOS RFIC design principles
מאת: Caverly, Robert
יצא לאור: (2007)
מאת: Caverly, Robert
יצא לאור: (2007)
פריטים דומים
-
Power-constrained testing of VLSI circuits
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003) -
VLSI test principles and architectures design for testability /
יצא לאור: (2006) -
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
מאת: Franca, Jose E.
יצא לאור: (1994) -
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
יצא לאור: (2008) -
Design for at-speed test, diagnosis, and measurement
יצא לאור: (2000)