Obálka

QR kód

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	Bahukudumbi, Sudarshan
Korporativní autor:	ebrary, Inc
Další autoři:	Chakrabarty, Krishnendu
Médium:	Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Boston : Artech House, 2010.
Edice:	Artech House integrated microsystems series.
Témata:	Integrated circuits > Testing. Integrated circuits > Wafer-scale integration. Semiconductors > Testing. Electronic books.
On-line přístup:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Podobné jednotky

Power-constrained testing of VLSI circuits
Autor: Nicolici, Nicola
Vydáno: (2003)

VLSI test principles and architectures design for testability /
Vydáno: (2006)

Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
Autor: Franca, Jose E.
Vydáno: (1994)

System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Vydáno: (2008)

Design for at-speed test, diagnosis, and measurement
Vydáno: (2000)

VLSI circuits for biomedical applications
Vydáno: (2008)

Advanced interconnects for ULSI technology
Vydáno: (2012)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
Autor: Tsividis, Yannis
Vydáno: (2002)

Advanced high speed devices
Vydáno: (2010)

Electromigration in ULSI interconnections
Autor: Tan, Cher Ming, 1959-
Vydáno: (2010)

Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
Autor: Radecka, Katarzyna
Vydáno: (2003)

High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Vydáno: (2005)

Linear integrated circuits /
Autor: Choudhury, D. Roy
Vydáno: (2017)

Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
Autor: Paik, Philip Y.
Vydáno: (2007)

Microelectronic circuit design /
Autor: Jaeger, Richard C.
Vydáno: (2006)

An engineer's guide to automated testing of high-speed interfaces
Autor: Moreira, José, 1975-
Vydáno: (2010)

Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
Autor: Saha, Samar K.
Vydáno: (2016)

Digital circuit analysis and design with simulink modeling
Autor: Karris, Steven T.
Vydáno: (2007)

VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
Autor: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Vydáno: (1999)

Radio frequency integrated circuit design
Autor: Rogers, John (John W. M.)
Vydáno: (2003)

ESD failure mechanisms and models /
Autor: Voldman, Steven H.
Vydáno: (2009)

Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
Autor: Sweet, Allen A., 1943-
Vydáno: (2008)

Radio-frequency integrated-circuit engineering /
Autor: Nguyen, Cam
Vydáno: (2015)

High-speed integrated circuit technology towards 100 GHz logic /
Vydáno: (2001)

Alternative computer chips post-silicon circuits.
Vydáno: (2003)

Compound semiconductor integrated circuits
Vydáno: (2003)

Digital integrated circuits : analysis and design /
Autor: Ayers, John E.
Vydáno: (2010)

CMOS biomicrosystems where electronics meets biology /
Vydáno: (2010)

Diode lasers and photonic integrated circuits
Autor: Coldren, L. A. (Larry A.)
Vydáno: (2012)

Understanding fabless IC technology
Autor: Hurtarte, Jeorge S.
Vydáno: (2007)

Analog circuits
Vydáno: (2008)

CMOS RFIC design principles
Autor: Caverly, Robert
Vydáno: (2007)

Lumped elements for RF and microwave circuits
Autor: Bahl, I. J.
Vydáno: (2003)

Handbook of 3D integration.
Vydáno: (2014)

Analog circuit design
Vydáno: (2013)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
Vydáno: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
Vydáno: (2003)

Beweiseignung : fortgeschrittener elektronischer signaturen /
Autor: Grigorjew, Olga
Vydáno: (2015)

Vertical 3D memory technologies /
Autor: Prince, Betty
Vydáno: (2014)

Invention of integrated circuits untold important facts /
Autor: Saxena, Arjun N.
Vydáno: (2009)