Bahukudumbi, S., & Chakrabarty, K. (2010). Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits. Artech House.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
Bahukudumbi, Sudarshan, এবং Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Boston: Artech House, 2010.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
Bahukudumbi, Sudarshan, এবং Krishnendu Chakrabarty. Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits. Artech House, 2010.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.