ebrary, Inc, Schrimpf, R. D., & Fleetwood, D. M. (2004). Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices. World Scientific Pub..
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)ebrary, Inc, Ronald Donald Schrimpf, و D. M. Fleetwood. Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices. Singapore ; New Jersey: World Scientific Pub., 2004.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)ebrary, Inc, et al. Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices. World Scientific Pub., 2004.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.