ebrary, Inc, Schrimpf, R. D., & Fleetwood, D. M. (2004). Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices. World Scientific Pub..
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)ebrary, Inc, Ronald Donald Schrimpf, và D. M. Fleetwood. Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices. Singapore ; New Jersey: World Scientific Pub., 2004.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)ebrary, Inc, et al. Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices. World Scientific Pub., 2004.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.