ebrary, Inc, Schrimpf, R. D., & Fleetwood, D. M. (2004). Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices. World Scientific Pub..
Чикаго стиль цитування (17-те видання)ebrary, Inc, Ronald Donald Schrimpf, та D. M. Fleetwood. Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices. Singapore ; New Jersey: World Scientific Pub., 2004.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)ebrary, Inc, et al. Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices. World Scientific Pub., 2004.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.