Power-constrained testing of VLSI circuits
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Yhteisötekijä: | |
| Muut tekijät: | |
| Aineistotyyppi: | Elektroninen E-kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
c2003.
|
| Sarja: | Frontiers in electronic testing ;
22. |
| Aiheet: | |
| Linkit: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tagit: |
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Samankaltaisia teoksia: Power-constrained testing of VLSI circuits
- VLSI test principles and architectures design for testability /
- Mixed analog-digital VLSI devices and technology
- VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
- Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
- VLSI circuits for biomedical applications
- A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /