APA (7. basım) Alıntı
Nicolici, N., & Al-Hashimi, B. (2003). Power-constrained testing of VLSI circuits. Kluwer Academic Publishers.
Chicago Style (17. basım) Atıf
Nicolici, Nicola, ve Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 2003.
MLA (9th ed.) Atıf
Nicolici, Nicola, ve Bashir Al-Hashimi. Power-constrained Testing of VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2003.
Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..