Power-constrained testing of VLSI circuits
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Müşterek Yazar: | |
| Diğer Yazarlar: | |
| Materyal Türü: | Elektronik Ekitap |
| Dil: | İngilizce |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
c2003.
|
| Seri Bilgileri: | Frontiers in electronic testing ;
22. |
| Konular: | |
| Online Erişim: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiketler: |
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
| Fiziksel Özellikler: | xi, 178 p. : ill. |
|---|---|
| Bibliyografya: | Includes bibliographical references (p. 163-173) and index. |