Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Päätekijä:	Ibe, Eishi H. (Tekijä)
Aineistotyyppi:	Elektroninen E-kirja
Kieli:	englanti
Julkaistu:	Singapore : IEEE : Wiley, 2015.
Aiheet:	Electronic circuits > Effect of radiation on. Integrated circuits > Ultra large scale integration > Reliability. Integrated circuits > Effect of radiation on. Electronic books.
Linkit:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Internet