Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /

Zapisane w:

Opis bibliograficzny
1. autor:	Ibe, Eishi H. (Autor)
Format:	Elektroniczne E-book
Język:	angielski
Wydane:	Singapore : IEEE : Wiley, 2015.
Hasła przedmiotowe:	Electronic circuits > Effect of radiation on. Integrated circuits > Ultra large scale integration > Reliability. Integrated circuits > Effect of radiation on. Electronic books.
Dostęp online:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Internet