Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Ibe, Eishi H. (مؤلف)
التنسيق:	الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	Singapore : IEEE : Wiley, 2015.
الموضوعات:	Electronic circuits > Effect of radiation on. Integrated circuits > Ultra large scale integration > Reliability. Integrated circuits > Effect of radiation on. Electronic books.
الوصول للمادة أونلاين:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

الوصف
وصف مادي:	1 online resource (295 pages) : illustrations
بيبلوغرافيا:	Includes bibliographical references at the end of each chapters and index.
ردمك:	9781118479315 (e-book)

مواد مشابهة