Power-constrained testing of VLSI circuits
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Другие авторы: | |
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
c2003.
|
| Серии: | Frontiers in electronic testing ;
22. |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Метки: |
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Search Result 1
Power-constrained testing of VLSI circuits
Опубликовано c2003.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Электронный ресурс
eКнига