ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Institutionella upphovsmän: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Materialtyp: Elektronisk Konferenspublikation E-bok
Språk:engelska
Publicerad: Materials Park, Ohio : ASM International, 2011.
Ämnen:
Länkar:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!