Digital holography for MEMS and microsystem metrology
محفوظ في:
| مؤلف مشترك: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Chichester, West Sussex, U.K. ; Hoboken, N.J. :
Wiley,
2011.
|
| سلاسل: | Wiley microsystem and nanotechnology series.
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة: Digital holography for MEMS and microsystem metrology
- Digital holography for MEMS and microsystem metrology
- Hermeticity testing of MEMS and microelectronic packages /
- Hermeticity testing of MEMS and microelectronic packages /
- Understanding MEMS : principles and applications /
- Understanding MEMS : principles and applications /
- Analysis and design principles of MEMS devices