Electromigration in ULSI interconnections

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Tan, Cher Ming, 1959-
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: ebrary, Inc
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Hackensack, N.J. : World Scientific, c2010.
Σειρά:International series on advances in solid state electronics and technology.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!