Citazione Stile APA (7a Edizione)
Tan, C. M. (2010). Electromigration in ULSI interconnections. World Scientific.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Hackensack, N.J.: World Scientific, 2010.
Citatione MLA (9a ed.)
Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. World Scientific, 2010.
Attenzione: Queste citazioni potrebbero non essere precise al 100%.