Electromigration in ULSI interconnections

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Tan, Cher Ming, 1959-
Ente Autore: ebrary, Inc
Natura: Elettronico eBook
Lingua:inglese
Pubblicazione: Hackensack, N.J. : World Scientific, c2010.
Serie:International series on advances in solid state electronics and technology.
Soggetti:
Accesso online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Descrizione
Descrizione fisica:xix, 291 p. : ill. (some col.), col. port.
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.