Electromigration in ULSI interconnections

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Tan, Cher Ming, 1959-
Coauteur: ebrary, Inc
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Hackensack, N.J. : World Scientific, c2010.
Reeks:International series on advances in solid state electronics and technology.
Onderwerpen:
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Omschrijving
Fysieke beschrijving:xix, 291 p. : ill. (some col.), col. port.
Bibliografie:Includes bibliographical references and index.