Electromigration in ULSI interconnections
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Autore principale: | |
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Ente Autore: | |
Natura: | Elettronico eBook |
Lingua: | inglese |
Pubblicazione: |
Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2010.
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Serie: | International series on advances in solid state electronics and technology.
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Soggetti: | |
Accesso online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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Descrizione fisica: | xix, 291 p. : ill. (some col.), col. port. |
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Bibliografia: | Includes bibliographical references and index. |