Electromigration in ULSI interconnections
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Coauteur: | |
| Formaat: | Elektronisch E-boek |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2010.
|
| Reeks: | International series on advances in solid state electronics and technology.
|
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Fysieke beschrijving: | xix, 291 p. : ill. (some col.), col. port. |
|---|---|
| Bibliografie: | Includes bibliographical references and index. |