Electromigration in ULSI interconnections
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
مؤلف مشترك: | |
التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
اللغة: | الإنجليزية |
منشور في: |
Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2010.
|
سلاسل: | International series on advances in solid state electronics and technology.
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
وصف مادي: | xix, 291 p. : ill. (some col.), col. port. |
---|---|
بيبلوغرافيا: | Includes bibliographical references and index. |