Electromigration in ULSI interconnections
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
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| Collectivité auteur: | |
| Format: | Électronique eBook |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2010.
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| Collection: | International series on advances in solid state electronics and technology.
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| Sujets: | |
| Accès en ligne: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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