ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /

সংরক্ষণ করুন:

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক:	International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
বিন্যাস:	বৈদ্যুতিক কনফারেন্স প্রসিডিং বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:	ইংরেজি
প্রকাশিত:	Materials Park, OH : ASM International, c2004.
বিষয়গুলি:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronic books.
অনলাইন ব্যবহার করুন:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
ট্যাগগুলো:	ট্যাগ যুক্ত করুন কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

প্রকাশিত c2004.

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

বৈদ্যুতিক কনফারেন্স প্রসিডিং বৈদ্যুতিন গ্রন্থ

অনুরূপ উপাদানগুলি