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VLSI test principles and architectures design for testability /

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Otros Autores: Wang, Laung-Terng, Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D., Wen, Xiaoqing
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.
Colección:Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
Materias:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Design.
Electronic books.
Acceso en línea:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Descripción Física:xxx, 777 p. : ill. ; 25 cm.
Bibliografía:Includes bibliographical references and index.

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