VLSI test principles and architectures design for testability /
Kaydedildi:
| Diğer Yazarlar: | , , |
|---|---|
| Materyal Türü: | Elektronik Ekitap |
| Dil: | İngilizce |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Amsterdam ; Boston :
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers,
c2006.
|
| Seri Bilgileri: | Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
|
| Konular: | |
| Online Erişim: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
| Fiziksel Özellikler: | xxx, 777 p. : ill. ; 25 cm. |
|---|---|
| Bibliyografya: | Includes bibliographical references and index. |