Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחבר תאגידי: | |
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
New York :
Oxford University Press,
1994.
|
| מהדורה: | Rev. ed. |
| סדרה: | Oxford series in optical and imaging sciences ;
5. |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!