Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Korporacja: | |
| Format: | Elektroniczne E-book |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
New York :
Oxford University Press,
1994.
|
| Wydanie: | Rev. ed. |
| Seria: | Oxford series in optical and imaging sciences ;
5. |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etykiety: |
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|