Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
Saved in:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Institution som forfatter: | |
| Format: | Electronisk eBog |
| Sprog: | engelsk |
| Udgivet: |
New York :
Oxford University Press,
1994.
|
| Udgivelse: | Rev. ed. |
| Serier: | Oxford series in optical and imaging sciences ;
5. |
| Fag: | |
| Online adgang: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
| Fysisk beskrivelse: | xiii, 263 p. : ill. |
|---|---|
| Bibliografi: | Includes bibliographical references (p. 233-259) and index. |