Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
Gorde:
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Erakunde egilea: | |
| Formatua: | Baliabide elektronikoa eBook |
| Hizkuntza: | ingelesa |
| Argitaratua: |
New York :
Oxford University Press,
1994.
|
| Edizioa: | Rev. ed. |
| Saila: | Oxford series in optical and imaging sciences ;
5. |
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiketak: |
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
Izan zaitez lehena ohar bat uzten!