Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Korporativní autor: | |
| Médium: | Elektronický zdroj E-kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
New York :
Oxford University Press,
1994.
|
| Vydání: | Rev. ed. |
| Edice: | Oxford series in optical and imaging sciences ;
5. |
| Témata: | |
| On-line přístup: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!