Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Recurso Electrónico livro electrónico |
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
New York :
Oxford University Press,
1994.
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| Edição: | Rev. ed. |
| Colecção: | Oxford series in optical and imaging sciences ;
5. |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
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| Descrição Física: | xiii, 263 p. : ill. |
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| Bibliografia: | Includes bibliographical references (p. 233-259) and index. |