תמונות העטיפה

Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /

שמור ב:
מחבר תאגידי: International Conference on Electron Microscopy Wisła, Poland
מחברים אחרים: Stróż, Danuta, Prusik, Krystian
פורמט: אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Durnten-Zurich, Switzerland ; Enfield, NH, USA : TTP, [2012]
סדרה:Diffusion and defect data. Solid state phenomena ; volumes 186.
נושאים:
Electron microscopy > Congresses.
Electronic books.
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!
צריך להיות מחובר מראש

פריטים דומים