Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /
محفوظ في:
| مؤلف مشترك: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , |
| التنسيق: | الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Durnten-Zurich, Switzerland ; Enfield, NH, USA :
TTP,
[2012]
|
| سلاسل: | Diffusion and defect data. Solid state phenomena ;
volumes 186. |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة: Electron microscopy XIV :
- Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /
- Electron microscopy and analysis
- Electron microscopy and analysis
- In-situ electron microscopy at high resolution
- In-situ electron microscopy at high resolution
- Structure analysis of advanced nanomaterials : nanoworld by high-resolution electron microscopy /