Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /
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| निगमित लेखक: | |
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| अन्य लेखक: | , |
| स्वरूप: | इलेक्ट्रोनिक सम्मेलन की कार्यवाही ई-पुस्तक |
| भाषा: | अंग्रेज़ी |
| प्रकाशित: |
Durnten-Zurich, Switzerland ; Enfield, NH, USA :
TTP,
[2012]
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| श्रृंखला: | Diffusion and defect data. Solid state phenomena ;
volumes 186. |
| विषय: | |
| ऑनलाइन पहुंच: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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| भौतिक वर्णन: | 1 online resource (352 pages) : illustrations (some color). |
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| ग्रन्थसूची: | Includes bibliographical references and indexes. |
| आईएसबीएन: | 9783038136996 (e-book) |
| आईएसएसएन: | 1012-0394 ; |