Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /
Zapisane w:
| Korporacja: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | , |
| Format: | Elektroniczne Materiały konferencyjne E-book |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Durnten-Zurich, Switzerland ; Enfield, NH, USA :
TTP,
[2012]
|
| Seria: | Diffusion and defect data. Solid state phenomena ;
volumes 186. |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etykiety: |
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|