Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /
שמור ב:
מחבר תאגידי: | |
---|---|
מחברים אחרים: | , |
פורמט: | אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני |
שפה: | אנגלית |
יצא לאור: |
Durnten-Zurich, Switzerland ; Enfield, NH, USA :
TTP,
[2012]
|
סדרה: | Diffusion and defect data. Solid state phenomena ;
volumes 186. |
נושאים: | |
גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|