Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /
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| Collectivité auteur: | |
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| Autres auteurs: | , |
| Format: | Électronique Actes de congrès e-book |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Durnten-Zurich, Switzerland ; Enfield, NH, USA :
TTP,
[2012]
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| Collection: | Diffusion and defect data. Solid state phenomena ;
volumes 186. |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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| Description matérielle: | 1 online resource (352 pages) : illustrations (some color). |
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| Bibliographie: | Includes bibliographical references and indexes. |
| ISBN: | 9783038136996 (e-book) |
| ISSN: | 1012-0394 ; |