Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Άλλοι συγγραφείς: | |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Hoboken, New Jersey :
Wiley,
2014.
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Search Result 1
Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /
Έκδοση 2014.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ηλεκτρονική πηγή
Ηλ. βιβλίο