Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /
Збережено в:
| Інші автори: | |
|---|---|
| Формат: | Електронний ресурс eКнига |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Hoboken, New Jersey :
Wiley,
2014.
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Search Result 1
Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /
Опубліковано 2014.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Електронний ресурс
eКнига