Yablon, D. G. (2014). Scanning probe microscopy for industrial applications: Nanomechanical characterization. Wiley.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)
Yablon, Dalia G. Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization. Hoboken, New Jersey: Wiley, 2014.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)
Yablon, Dalia G. Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization. Wiley, 2014.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.